Лаборатория роста кристаллов - Научное оборудование

 

Установка роста кристаллов методом плавки Зона УЗ 0 – на основе установки развивается метод вертикальной направленной кристаллизации с управлением процессом тепломассопереноса в расплаве и приближением к диффузионным условиям массопереноса.

 

Контрольно измерительная крейтовая система LTC – используется в системе управления модернизируемой установкой Зона УЗ 0.

 

Регулируемый одноканальный источник напряжения и тока стабилизированный Б3-781.4 – используется в системе питания нагревателей модернизируемой установки Зона УЗ 0.

 

Источник питания Б3-793.4 – используется в системе питания нагревателей модернизируемой установки Зона УЗ 0.

 

Самописец-регистратор Эрбий-7115 двухкоординатный – используется в установках измерения электрофизических параметров выращиваемых кристаллов полупроводников.

 

Электропечь СНОЛ 6/12-В – используется для высокотемпературной обработки технологической оснастки для роста кристаллов полупроводниковых соединений.

 

Генератор сигналов низкочастотный Г3-110 – применяется в стенде для испытания системы активной защиты от микроускорений/вибраций.

 

Генератор сигналов низкочастотный Г3-112/1 – применяется в стенде для испытания системы активной защиты от микроускорений/вибраций.

 

Источник напряжения и тока стабилизированные Б-5-44А – применяется в стенде для испытания системы активной защиты от микроускорений/вибраций.

 

Источник напряжения и тока стабилизированные Б5-43А – применяется в стенде для испытания системы активной защиты от микроускорений/вибраций.

 

Источник питания постоянного тока В5-49-1 – применяется в стенде для испытания системы активной защиты от микроускорений/вибраций.

 

Источник питания постоянного тока В5-49 – применяется в стенде для испытания системы активной защиты от микроускорений/вибраций.

 

Система магнетронного напыления МАГ-2000 (20 Вт) – применяется для получения тонких пленок SmS толщиной 20-30 нм на подложках из ситалла.

 

Растровый электронный микроскоп FEI Quanta 200 3D FIB с ионной пушкой (Центр коллективного пользования "Структурная диагностика материалов" ИК РАН).

Масс-спектрометр на индуктивно связанной плазме iCAP Q Thermo Sientific (Центр коллективного пользования "Структурная диагностика материалов" ИК РАН).

Порошковый рентгеновский дифрактометр X'pert Pro (МPD) (λ=0,9812 Å) (Центр коллективного пользования "Структурная диагностика материалов" ИК РАН).