Лаборатория рефлектометрии и малоуглового рассеяния - Основные публикации

 

За 2015 год:

1.   С.В. Савельев, В.Е. Асадчиков, А.В. Бузмаков, Д.А. Золотов, В.И. Гулимова, Р.А. Сенин. Рентгеновская микротомография и рентгенофлуоресцентный анализ кисти плодов человека 11-21-й недель развития. // Клиническая и экспериментальная морфология, 2015, № 1 (13), С. 33-42.

2.   И.А. Прохоров, В.Е. Асадчиков, Б.С. Рощин, В.И. Стрелов, В.Г. Ральченко, А.П. Большаков. Рентгенодифракционная характеризация синтетических кристаллов граната, алмаза и сапфира. // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2015, № 5, С. 52-60.

3.   V.V. Yashchuk, L. Samoylova, I.V. Kozhevnikov. Specification of x-ray mirrors in terms of system performance: new twist to an old plot. // Optical Engineering, 2015, V. 54, Issue 2, P. 025108.

4.   I.V. Kozhevnikov, E.O. Filatova, A.A. Sokolov, A.S. Konashuk, F. Siewert, M. Stormer, G. Gaudin, B. Keitel, L. Samoylova, H. Sinn. Comparative study of the X-ray reflectivity and in-depth profile of a-C, B4C, and Ni coatings for 0.1-2 keV. // Journal of Synchrotron Radiation, 2015, V. 22, Part 2, P. 348-353.

5.   X. Yang, I.V. Kozhevnikov, Q. Huang, Z. Wang. Unified analytic theory of single-order soft X-ray multilayer gratings. // Journal of the Optical Society of America B, 2015, V. 32, Issue 4, P. 506-522.

6.   I.V. Kozhevnikov, A.E. Yakshin, F. Bijkerk. Wideband multilayer mirrors with minimal layer thicknesses variation. // Optics Express, 2015, V. 23, Issue 7, P. 9276-9283.

7.   A. Buzmakov, M. Chukalina, D. Nikolaev, V. Gulimova, S. Saveliev, E. Tereschenko, A. Seregin, R. Senin, D. Zolotov, V. Prun, G. Shaefer and V. Asadchikov. Monochromatic computed microtomography using laboratory and synchrotron sources and X-ray fluorescence analysis for comprehensive analysis of structural changes in bones. // Journal of Applied Crystallography, 2015, V. 48, Part 3, P. 693-701.

8.   M. Wen, I.V. Kozhevnikov, Z. Wang. Reflection of X-rays from a rough surface at extremely small grazing angles. // Optics Express, 2015, V. 23, Issue 19, P. 24220-24235.

 

За 2014 год:

1.   И.В. Якимчук, А.В. Бузмаков, А.В. Андреев, В.Е. Асадчиков. Особенности диагностики качества вогнутых сферических поверхностей скользящим рентгеновским пучком. // Журнал технической физики, 2014, Т. 84, № 1, С. 145.

2.   В.Е. Асадчиков, А.В. Бузмаков, Д.А. Золотов, И.В. Якимчук. Микротомография – взгляд в невидимое. // Природа, 2014, № 2 (1182), С. 9-17.

3.   S. Roling, H. Zacharias, L. Samoylova, H. Sinn, Th. Tschentscher, O. Chubar, A. Buzmakov, E. Schneidmiller, M. V. Yurkov, F. Siewert, S. Braun, P. Gawlitza. Time-dependent wave front propagation simulation of a hard x-ray split-and-delay unit: Towards a measurement of the temporal coherence properties of x-ray free electron lasers. // Physical Review ST Accelerators and Beams, 2014, V. 17, Issue 11, P. 110705.

4.   E.O. Filatova, I.V. Kozhevnikov, A.A. Sokolov, A.S. Konashuk, F. Schaefers, M. Popovici, V.V. Afanas'ev. Application of soft X-ray reflectometry for analysis of underlayer influence on structure of atomic-layer deposited SrTixOy films. // Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, 2014, V. 196, P. 110-116.

 

За 2013 год:

1.   Ю.О. Волков, И.В. Кожевников, Б.С. Рощин, Е.О. Филатова, В.Е. Асадчиков. Модельный подход к решению обратной задачи рефлектометрии и его применение для исследования внутренней структуры пленок оксида гафния. // Кристаллография, 2013, Т. 58, № 1, С. 146.

2.   И.В. Якимчук, И.В. Кожевников, В.Ю. Политов, В.Е. Асадчиков. Эллипсоидальные концентраторы для лабораторных рентгеновских источников: аналитический подход к оптимизации. // Кристаллография, 2013, Т. 58, № 2, С. 337-347.

3.   Р.А. Сенин, А.С. Хлебников, А.Е. Вязовецкова, И.А. Блинов, А.О. Голубицкий, И.В. Казаков, А.А. Воробьев, А.В. Бузмаков, В.Е. Асадчиков, В.А. Шишков, Э.Х. Мухамеджанов, М.В. Ковальчук. Модернизированная станция "рентгеновская топография и микротомография" на курчатовском источнике синхротронного излучения. // Кристаллография, 2013, Т. 58, № 3, С. 510.

4.   В.Е. Прун, А.В. Бузмаков, Д.П. Николаев, М.В. Чукалина, В.Е. Асадчиков. Вычислительно эффективный вариант алгебраического метода компьютерной томографии. // Автоматика и телемеханика, 2013, № 10, С. 86-97.

5.   R. van der Meer, I. Kozhevnikov, B. Krishnan, J. Huskens, W. van der Wiel, P. Hegeman, C. Brons, B. Bastiaens, K. Boller, F. Bijkerk. Single-order operation of lamellar multilayer gratings in the soft x-ray spectral range. // AIP Advances, 2013, V. 3, Issue 1, P. 012103.

6.   R. van der Meer, I.V. Kozhevnikov, H.M.J. Bastiaens, K.-J. Boller, F. Bijkerk. Extended theory of soft x-ray reflection for realistic lamella multilayer gratings. // Optics Express, 2013, V. 21, Issue 11, P. 13105-13117.

7.   E.O. Filatova, I.V. Kozhevnikov, A.A. Sokolov, Yu.V. Yegorova, A.S. Konashuk, O.Yu. Vilkov, F. Schaefers, M. Gorgoi, A.S. Shulakov. X-ray and photoelectron spectroscopic nondestructive methods for thin films and interfaces study. Application to SrTiO3 based heterostuctures. // Microelectronic Engineering, 2013, V. 109, P. 13-16.

8.   V.E. Asadchikov, A.V. Butashin, V.M. Kanevsky, A.E. Muslimov, B.S. Roshchin. Synthetic sapphire: Growth and surface investigations. // in book Sapphire: Structure, Technology, and Application. Editor I. Tartaglia, Nova Science Publishers. NY, 2013, Р. 35-75.

 

За 2012 год:

1.   И.В. Якимчук, А.В. Бузмаков, А.В. Андреев, В.Е. Асадчиков. Исследование качества вогнутых сферических поверхностей скользящим пучком рентгеновского излучения. // Кристаллография, 2012, Т. 57, № 2, С. 341-344.

2.   И.В. Кожевников. Общие закономерности отражения рентгеновского излучения от шероховатых поверхностей. II. Конформные шероховатости. // Кристаллография, 2012, Т. 57, № 4, С. 558-567.

3.   В.Е. Асадчиков, Р.А. Сенин, A.Е. Благов, А.В. Бузмаков, В.И. Гулимова, Д.А. Золотов, А.С. Орехов, А.С. Осадчая, К.М. Подурец, С.В. Савельев, А.Ю. Серегин, Е.Ю. Терещенко, М.В. Чукалина, М.В. Ковальчук. Сопоставление данных рентгеновской микротомографии и флуоресцентного анализа при изучении структурной организации костной ткани. // Кристаллография, 2012, Т. 57, № 5, С. 782-790.

4.   В.Е. Асадчиков, А.В. Бузмаков, Д.А. Золотов, И.В. Якимчук, Р.А. Сенин, Ю.И. Дудчик, И.С. Смирнов, А.А. Коновко, С.В. Савельев, В.И. Гулимова. Томографические методы исследования микрообъектов и изогнутых поверхностей. // Мир измерений, 2012, № 6 (136), С. 22-31.

5.   В.Е. Асадчиков, И.В. Кожевников, Б.С. Рощин, Ю.О. Волков, А.Э. Муслимов, В.М. Каневский, М.Л. Занавескин. Анализ наношероховатости поверхности методами рентгеновского рассеяния и атомно-силовой микроскопии. // Мир измерений, 2012, № 7, С. 11-17.

6.   E.O. Filatova, I.V. Kozhevnikov, A.A. Sokolov, E.V. Ubiyvovk, S. Yulin, M. Gorgoi, F. Schaefers. Soft X-ray reflectometry, hard X-ray photoelectron spectroscopy and transmission electron microscopy investigations of the internal structure of TiO2(Ti)/SiO2/Si stacks. // Science and Technology of Advanced Materials, 2012, V. 13, № 1, P. 015001.

7.   I.V. Kozhevnikov, L. Peverini, E. Ziegler. Development of a self-consistent free-form approach for studying the three-dimensional morphology of a thin film. // Physical Review B, 2012, V. 85, Issue 12, P. 125439.

8.   E.O. Filatova, A.A. Sokolov, I.V. Kozhevnikov. Characterization of high-k dielectrics internal structure by X-ray spectroscopy and reflectometry. New approaches to inter layer identification and analysis. // Chapter 7 in the book High-k Gate Dielectrics for SMOS Technology. Editors Gang He and Zhaoqi Sun, Wiley-VCH Verlag. Weinhem, Germany, 2012, P. 225-271.

9.   V.E. Asadchikov, A.V. Buzmakov, A.S. Osadchaya, D.A. Zolotov, M.K. Rafailov. Characterization of oil nano-structures with monochromatic x-ray micro-tomography. // Proceedings of SPIE Volume 8460. The International Society for Optical Engineering. Biosensing and Nanomedicine V, 84600V (2012).

 

За 2011 год:

1.   Д.А. Золотов, А.В. Бузмаков, В.Е. Асадчиков, А.Э. Волошин, В.Н. Шкурко, И.С. Смирнов. Исследование внутренней структуры монокристалла фторида лития методом рентгеновской топо-томографии в лабораторных условиях. // Кристаллография, 2011, Т. 56, № 3, С. 426-430.

2.   И.В. Якимчук, A.В. Бузмаков, В.Е. Асадчиков, Ю.С. Скибина, Н.Б. Скибина, В.И. Белоглазов. Исследование эффективности применения аксиально-симметричных отражательных рентгенооптических элементов из стекла на лабораторных источниках. // Заводская лаборатория. Диагностика материалов, 2011, Т. 77, № 6, С. 26-32.

3.   А.С. Геранин, А.В. Бузмаков, Ю.О. Волков, Д.А. Золотов, Б.С. Рощин, И.В. Якимчук, В.Е. Асадчиков, И.С. Смирнов, В.Н. Шкурко. Реализация рентгеновских томографических схем с применением различных кристаллов-монохроматоров. // Заводская лаборатория. Диагностика материалов, 2011, Т. 77, № 10, С. 41-44.

4.   В.Е. Асадчиков, В.В. Волков, Ю.О. Волков, К.А. Дембо, И.В. Кожевников, Б.С. Рощин, Д.А. Фролов, А.М. Тихонов. Конденсация наночастиц кремнезема на фосфолипидной мембране. // Письма в ЖЭТФ, 2011, Т. 94, С. 625-628.

5.   И.В. Якимчук, А.В. Бузмаков, А.В. Андреев, В.Е. Асадчиков. Рентгеновское томографическое изображение депозита на сферической поверхности. // Письма в ЖЭТФ, 2011, Т. 94, В. 9, С. 738-741.

6.   V.E. Asadchikov, A.I. Chulichkov, A.V. Buzmakov, M.V. Chukalina, D.P. Nikolaev, R.A. Senin, G. Schaefer. Morphological Analysis and Reconstruction for Computed Tomography. // International Journal of Computer Information Systems and Industrial Management Applications (IJCISIM), 2011, V. 3, P. 019-025.

7.   I.V. Kozhevnikov, R. van der Meer, H.J.M. Bastiaens, K.-J. Boller, F. Bijkerk. Analytic theory of soft X-rays diffraction by lamellar multilayer gratings. // Optics Express, 2011, V. 19, P. 9172-9184.

8.   L. Samoylova, A. Buzmakov, G. Geloni, O. Chubar, H. Sinn. Cross-platform wave optics software for XFEL applications. // Proceedings of SPIE Volume 8141. Advances in Computational Methods for X-Ray Optics II, 81410A (2011); DOI: 10.1117/12.893044.