ЦКП "Структурная диагностика материалов" - Метрологическая деятельность - МИ

Методики выполнения измерений, прошедшие государственную регистрацию в ранге МИ (рекомендаций метрологического института):

 1. Рекомендация: ГСИ. Линейные размеры элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов. Методика выполнения измерений с помощью растрового электронного микроскопа JSM-7401F, МИ 3077-2007

 2. Рекомендация: ГСИ. Размеры наночастиц в полидисперсных системах и форма биомакромолекул в растворах. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра Hecus "SAXS System 3", МИ 3078-2007

 3. Рекомендация: ГСИ. Измерение линейных размеров объектов в режиме изображения и межплоскостных расстояний в режиме дифракции. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа Tecnai G2 30 S-TWIN с рентгеновским спектрометром фирмы EDAX, МИ 3079-2007

 4. Рекомендация: ГСИ. Параметры шероховатости сверхгладких поверхностей. Методика выполнения измерений рентгеновским методом, МИ 3080-2007

 5. Рекомендация: ГСИ. Интегральные структурные параметры наночастиц и кластеров в моно-полидисперсных системах, толщина и период повторяемости в тонких пленках. Методика выполнения измерений с помощью автоматического малоуглового рентгеновского дифрактометра с однокоординатным позиционно-чувствительным детектором "Амур-К", МИ 3143-2008

 6. Рекомендация: ГСИ. Пространственное распределение линейного коэффициента поглощения рентгеновского излучения. Методика выполнения измерений методом рентгеновской компьютерной томографии, МИ 3142-2008

 7. Рекомендация: ГСИ. Межплоскостные расстояния в кристаллах в диапазоне 0,08-20 нм и распределения интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронографа ЭМР-110К, МИ 3141-2008

 8. Рекомендация: ГСИ. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа EM-430, МИ 3160-2008

 9. Рекомендация: ГСИ. Эффективная шероховатость поверхности. Методика выполнения измерений с помощью сканирующего зондового микроскопа Solver P47, МИ 3161-2008