ЦКП "Структурная диагностика материалов" - Объекты исследований и услуги

 

ЦКП «Структурная диагностика материалов» предоставляет услуги по исследованию следующих объектов:

   §  Неорганические и органические (в т.ч. биоорганические кристаллы)

   §  Композитные кристаллические материалы

   §  Сверхгладкие и наноструктурированные тонкие пленки, многослойные структуры

   §  Биологически активные частицы (биомакромолекулы, белки, вирусы)

   §  Наноматериалы (нанокристаллы, улеродные нанотрубки, нанокапсулы, наночастицы и т.д.)

 

Перечень основных предоставляемых услуг ЦКП ИК РАН и их стоимость (по состоянию на 17 июня 2015 года):

 1. Структурные исследования методами рентгеновской дифрактометрии белков, неорганических материалов, порошков (монокристальная рентгеновская дифрактометрия–от 600 руб., малоугловая рентгеновская дифрактометрия–от 1200 руб., порошковая рентгеновская дифрактометрия–от 1300 руб.);

 2. Рентгено-флуоресцентные исследования поверхности, приповерхностных слоев, многослойных систем и тонких пленок, в том числе, методом стоячих рентгеновских волн (от 500 руб.);

 3. Рентгенотопографические исследования реальной структуры кристаллов (от 1200 руб.);

 4. Рентгеновская томография биологических объектов (от 1200 руб.);

 5. Исследования методами просвечивающей и растровой электронной микроскопии атомной структуры, морфологии и химического состава широкого класса материалов, включая полупроводниковое материаловедение, катализ, минералогию и биологию (просвечивающая электронная микроскопия–от 2800 руб., растровая электронная микроскопия–от 2000 руб., пробоподготовка образцов–от 750 руб.);

 6. Оперативный бесконтактный контроль атомарных поверхностей методами атомно-силовой микроскопии (от 900 руб.);

 7. Электронно-дифракционное ("на просвет" и "на отражение") исследование и анализ атомной структуры и микроструктуры и качества поверхности различных материалов, включая аморфные материалы (от 1200 руб.);

 8. Исследование методами оптической абсорбционной спектроскопии оптических характеристик, структуры и состава конденсированных материалов, в том числе параметров монокристаллов и изделий на их основе (от 600 руб.);

 9. Изготовление наноразмерных изделий методом резки ионным пучком в растровом электронном микроскопе, а также сварка объектов (в т.ч. наноразмерных систем), создание электрических контактов между наноразмерными материалами различной природы (от 2000 руб.);

 10. Исследование спектральных характеристик в диапазоне 190-3300 нм. и примесного состава монокристаллов, растворов органических и неорганических соединений, полиэлектролитных микро- и нанокапсул (от 900 руб.);

 11. Получение изображения отдельных срезов по высоте цельного объекта с последующим восстановлением трехмерного изображения структуры объектов субмикронного размера методом конфокальной микроскопии (от 900 руб.);

 12. Электронографический структурный анализ отдельных нанокристаллов методом "полого конуса" (от 2500 руб.);

 13. Исследование методами оптической микроскопии 3D объектов и их деталей с разрешением до 350 нм. (от 500 руб.);

 14. Измерения диэлектрических характеристик, исследования ионной и протонной проводимости и других физико-химических свойств кристаллов при высоких температурах и различных газовых атмосферах (от 1000 руб.);

 15. Исследования тепловых характеристик и фазовых переходов, изменения массы материалов в различных газовых атмосферах и вакууме, в том числе измерения теплоемкости Cp (от 1500 руб.);

 16. Быстрое получение карт распределения элементов в образце, в том числе с высоким разрешением, с помощью новейшего энергодисперсионного детектора установленного на современном просвечивающем электронном микроскопе FEI Tecnai Osiris (от 2800 руб.);

 17. Проведение экспресс-анализа порошков и тонких пленок методом рентгеновской дифракции (от 500 руб.).