ЦКП "Структурная диагностика материалов" - Оборудование и направления исследовательской деятельности - Методы, основанные на использовании пучков электронов

 

Просвечивающий электронный микроскоп FEI Osiris

(FEI, США)

 

График загрузки прибора

025 Единственная модель такого прибора на территории РФ – современный просвечивающий электронный микроскоп с электронной пушкой XFEG, имеющий высокое разрешение до 0,12 нм в светлопольном режиме и до 0,18 нм в STEM-режиме, с новейшим сверхбыстрым и эффективным (в режиме реального времени) EDX-анализатором (Super-X SDD), с возможностью построением карт распределения элементов в образце с разрешением менее 1 нм.

 

   

Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения Tecnai G2 30 S-TWIN

(FEI, США)

 

График загрузки прибора

007 Исследование твердых тел с высоким (вплоть до атомного) пространственным разрешением. Разрешение по точкам 0,20 нм, информационный предел <0,15 нм, разрешение в режиме STEM-0,17 нм. Поворот образца на +/-40°.

 

   

Криогенный просвечивающий электронный микроскоп Tecnai G2 SPIRIT

(FEI, США)

 

График загрузки прибора

008 Позволяет установить атомную и молекулярную структуру материалов с разрешением до 0,1 нм.

 

   

Высокоразрешающий автоэмиссионный растровый электронный микроскоп FEI Scios с ионной пушкой

(FEI, США)

 

График загрузки прибора

026 Первая и в настоящий момент единственная в России модель прибора. Новейший двулучевой электронный микроскоп фирмы FEI с манипуляторами и возможностью напыления материалов. Позволяет исследовать морфологию поверхности образца с высоким разрешением (до 1 нм в электронном пучке и до 7 нм в ионном). Прекрасный инструмент для приготовления образцов для просвечивающей электронной микроскопии, резки и напыления материалов с помощью различных шаблонов с высоким разрешением. Обладает несколькими детекторами позволяющими получать прекрасный контраст на Ваших образцах.

 

   

Растровый электронный микроскоп JSM-7401F с автоэмиссионным катодом

(JEOL, Япония)

 

График загрузки прибора

009 Исследование физических, химических, оптических и морфологических особенностей широкого спектра аморфных и кристаллических материалов с помощью тонко сфокусированного электронного пучка.

 

   

Растровый электронный микроскоп FEI Quanta 200 3D FIB с ионной пушкой

(FEI, США)

 

График загрузки прибора

010 Получение электронно-микроскопического изображения аморфных и кристаллических материалов. Подготовка образцов с помощью сфокусированного ионного пучка.

 

   

Исследовательский комплекс Ntegra Prima для атомно-силовой микроскопии в комплексе с чистой климатической зоной

(NT-МDТ, Россия)

 

График загрузки прибора

011 Исследование пространственного распределения электрических, магнитных, механических, адгезионных свойств поверхности.

 

   

Сканирующий зондовый микроскоп нанотвердомер "НаноСкан-3D"

(ФГБНУ ТИСНУМ, Россия)

 

График загрузки прибора

027 В приборе "НаноСкан-3D" реализованы различные измерительные методики, охватывающие все основные виды измерений физико-механических свойств на субмикронных и нанометровых масштабах линейных размеров.

 

   

Сканирующий зондовый микроскоп Solver PRO-M

(NT-МDТ, Россия)

 

График загрузки прибора

012 Сканирующая головка может использоваться в конфигурации Stand-alone для измерения сверхбольших образцов (до 100 мм). Может использоваться для модифицирования поверхностей, манипуляции частицами до 50 нм в диаметре и литографии высокого разрешения (10 нм).

 

   

Сканирующий зондовый микроскоп Solver P-47 в чистой климатической зоне

(NT-МDТ, Россия)

 

График загрузки прибора

013 Изучение наноструктур, наносистем и поверхности материалов с различным типом проводимости с разрешением 5-10 нм (латеральным) и 0,1 нм (по вертикали).

 

   

Электронограф ЭМР-110К

(Selmi, Украина)

 

График загрузки прибора

014 Изучение структуры тонких пленок и наносистем, нанокристаллов и нанокомпозитов.

 

   

Комплекс оборудования для пробоподготовки и отчистки образцов для электронной микроскопии и электронографии

015