ЦКП "Структурная диагностика материалов" - Оборудование и направления исследовательской деятельности - Оптические и другие методы анализа

 

УФ-спектрофотометр Lambda 650

(Perkin Elmer, США)

 

График загрузки прибора

017 Прибор характеризуется высокой фотометрической точностью, минимальным уровнем рассеянного света и может быть использован для задач органического и неорганического анализа, в биохимии, а также при измерении спектральных характеристик различных оптических материалов.

 

   

Оптический лазерный конфокальный микроскоп Leica TCS SPE

(Leica Microsystems, Германия)

 

График загрузки прибора

018 Конфокальная лазерная микроскопия биологических объектов (исследования по визуализации и изучению структуры биологических микрокапсул).

 

   

Спектрофотометр Cary 5000

(Varian, США)

 

График загрузки прибора

019 Измерения спектральных характеристик кристаллических материалов, включая нанокристаллы, биокристаллы, тонкие пленки, и изделий из них. Спектральный диапазон 175‑3300 нм.

 

   

Анализатор размера субмикронных частиц Delsa Nano

(Beckman Coulter, США)

 

График загрузки прибора

020 Позволяет определять размеры частиц от 0,6 до 7000 нм в коллоидных растворах и измерять дзета-потенциал в диапазоне от -100 мВ до +100 мВ для частиц от 5 нм до 10 мкм.

 

   

Комбинированный ТГ-ДСК анализатор STA 449 F1 Jupiter

(NETZSCH, Германия)

 

График загрузки прибора

022 Сочетает методы дифференциальной сканирующей калориметрии и термогравиметрии в одном измерении.

 

   

Установка Novotherm-HT 1200 с измерителем импеданса Alpha-A+ZG4

(NOVOCONTROL Technologies GmbH & Co. KG, Германия)

 

График загрузки прибора

023 Позволяет проводить измерения электрических характеристик образцов кристаллических либо аморфных материалов.