30 мая-3 июня 2016 года в г. Зеленограде прошла XXVI Российская конференция по электронной микроскопии (РКЭМ-2016)

Более двадцати сотрудников Института кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН приняли участие в этом значимом научном мероприятии, посвященном вопросам развития и применения методов электронной и зондовой микроскопии в физике твердого тела, материаловедении, нанотехнологии, химии, биологии и медицине.

Устные доклады сотрудников ИК РАН охватывали широкий круг вопросов, включая изучение морфологии, структуры и свойств композитов на основе бактериальной целлюлозы Gluconacetobacter xylinum и нанокристаллов гидроксиапатита, исследование структуры пленок высшего силицида марганца на кремнии методами электронной микроскопии и процессов кристаллизации композиций на основе сегнетоэлектрических пленок. Д.ф.-м.н. Е.И. Суворовой и Д.О. Шведченко была представлена Программа Automatic Nanoparticle Numerator (ANN) для измерения диаметров наночастиц в ПЭМ/СПЭМ.

В ходе стендовых сессий научные сотрудники Института познакомили гостей конференции со своими достижениями в области сканирующей зондовой микроскопии и зондовой нанолитографии, поделись опытом применения сканирующей электронной и зондовой микроскопии в физике, материаловедении, микроэлектронике и нанотехнологиях.

В рамках симпозиума состоялась 4-я Школа молодых ученых "Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов", в работе которой сотрудники Института кристаллографии также приняли самое активное участие, прочитав несколько публичных лекций для молодых ученых и аспирантов.

Конференция была организована Институтом кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН, Институтом проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН и "Корпорацией развития Зеленограда" по инициативе Научного совет РАН по электронной микроскопии. "РКЭМ-2016" проводился при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (РФФИ).