1-4 июня 2015 года в г. Черноголовке состоялся XIX Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (РЭМ-2015)

Свыше двадцати сотрудников Института кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН приняли участие в этом авторитетном научном мероприятии, посвященном актуальным вопросам развития и применения методов сканирующей микроскопии (электронной и зондовой) и аналитических методов исследования в физике твердого тела, материаловедении, нанотехнологии, химии, биологии, медицине.

Доклады научных коллективов ИК РАН охватывали широкий круг вопросов, включая ионную литографию единичных плазмонных наноструктур в тонких слоях благородных металлов, а также современные методы растровой ионной микроскопии для создания оптических метаматериалов и плазмонных наноструктур.

В ходе стендовых сессий научные сотрудники Института кристаллографии познакомили гостей конференции со своими достижениями в области сканирующей зондовой микроскопии и зондовой нанолитографии, поделись опытом применения сканирующей электронной и зондовой микроскопии в физике, материаловедении, микроэлектронике и нанотехнологиях.

В рамках симпозиума состоялась 3-я Школа молодых ученых "Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов", в работе которой сотрудники Института кристаллографии также приняли самое активное участие, передавая бесценный научный опыт молодому поколению.

Симпозиум был организован Институтом кристаллографии им. А.В. Шубникова, Институтом проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов по инициативе Научного совет РАН по электронной микроскопии. "РЭМ-2015" проводился при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (РФФИ).