ЦКП "Структурная диагностика материалов" - Метрологическая деятельность

 

Большое внимание ЦКП «Структурная диагностика материалов»  ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» РАН оказывает развитию метрологической составляющей своей деятельности.

Сотрудниками ЦКП «Структурная диагностика материалов» совместно с государственным научно-метрологическим центром ОАО «НИЦПВ» разработана и аттестована 42 методика выполнения измерений (МВИ).

Девять методик выполнения измерений прошли государственную регистрации в ранге МИ (рекомендаций метрологического института) и внесены в Указатель "Нормативные документы в области метрологии".

4 МВИ, разработанные с участием специалистов ЦКП «Структурная диагностика материалов», утверждены в ранге «Национальных стандартов».

Приборный парк ЦКП «Структурная диагностика материалов» ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» РАН проходит регулярную поверку и калибровку, имеются соответствующие сертификаты.