ЦКП "Структурная диагностика материалов" - Оборудование и направления исследовательской деятельности - Рентгеновские методы

 

Рентгеновский дифрактометр Xcalibur S

(Oxford Diffraction Ltd, Великобритания)

 

Основные технические характеристики

Сертификат калибровки

График загрузки прибора

001 Исследование атомной структуры монокристаллов в широком интервале температур и давлений.

 

   

Рентгеновский малоугловой дифрактометр с 2-мя позиционно-чувствительными детекторами SAXS-2D

(HECUS X-ray system GmbH GRAZ, Австрия)

 

График загрузки прибора

002 Исследование надатомной структуры твердого тела, полимеров, жидкостей, мицелл, биологических макромолекул в растворе, полидисперсных материалов, сплавов, фрактальных систем и других наноматериалов.

 

   

Порошковый рентгеновский дифрактометр X'pert Pro (МPD)

(PANanalytical, Нидерланды)

 

График загрузки прибора

003 Исследование атомной структуры кристаллов белков, поликристаллов, жидких кристаллов образцов малого объема и др.

 

   

Универсальный рентгеновский дифрактометр SmartLab 9kW

(Rigaku, Япония)

 

График загрузки прибора

004 Изучение планарных тонкоплёночных систем, поликристаллов, монокристаллов с использованием методов стоячих рентгеновских волн, рефлектометрии, двух и многоволновой дифрактометрии, рентгенофазового и рентгенофлуоресцентного анализа.

 

   

Настольный рентгеновский дифрактометр Rigaku Miniflex 600

(Rigaku, Япония)

 

График загрузки прибора

024 Проведение экспресс-анализа различных образцов.