Секции:
1. Новые методы просвечивающей/растровой электронной микроскопии, электронной дифракции и микроанализа. Hовые приборы, элементы электронной оптики, детекторы и обработка изображений.
2. Крио-ЭМ и применение электронной, конфокальной сканирующей микроскопии в биологии и медицине.
3. Электронная микроскопия, электронная дифракция и микроанализ в исследовании новых материалов.
4. Растровая электронная и ионная микроскопия. In-situ исследования в РЭМ.
5. Методы электронной микроскопии и микроанализа в исследовании предметов культурного наследия.
6. Сканирующая зондовая микроскопия.
7. Исследование сверхбыстрых процессов, фемтосекундная микроскопия, динамическая электронная кристаллография.
8. Электронная и ионная литография. Микроскопия в современных технологиях.
9. Электронная микроскопия в химии, геологии и метеоритоведении.
10. Другие применения электронной микроскопии и комплементарных методов.
Научная программа стендовых докладов (скачать *.pdf)
28 августа 2018 года
09.00 Открытие конференции
09.00-09.10 Авилов А.С. Вступительное слово
09.10-09.20 Рощупкин Д.В. Приветственное слово
09.20-09.25 Васильев А.Л. Памяти Н.А. Киселева
Приглашенные доклады
09.30-10.00 Чувилин А.Л. «Кинетика атомных перестроек на примере графена»
10.00-10.30 Эйндоу М. "Applications of electron microscopy for metal additive manufacturing"
10.30-11.00 Меши Л. "Study of the order of the domains in the matrix of the Al-Co-Cr-Fe-Ni high entropy alloy"
11.00-11.30 Боргардт Н.И. «Просвечивающая электронная микроскопия сомкнутых нанопроволок GaN»
11.30-12.00 Васильев А.Л. «Определение кристаллической структуры новых фаз методами высокоразрешающей ЭМ»
12.00-12.20 Кофе-брейк
Новые методы просвечивающей/растровой электронной микроскопии, электронной дифракции и микроанализа. Новые приборы, элементы электронной оптики, детекторы и обработка изображений
12.20-12.35 Модин Е.Б. «Трехмерная электронная микроскопия в исследовании наноматериалов»
12.35-12.55 Гусев С.А. «Лоренцева микроскопия наноразмерных цилиндрических магнитных доменов»
12.55-13.15 Михеев Н.Н. «Двухпотоковая модель транспорта пучка электронов РЭМ в веществе при многократном рассеянии: применение в задачах рентгеноспектрального микроанализа»
13.15-13.35 Чуховский Ф.Н. «К решению обратной задачи электронно-микроскопической томографии. Итеративные алгоритмы на примере кристалла с точечным дефектом кулоновского типа»
13.35-14.05 Cообщение представителей фирмы Thermo Fisher Scientific
14.05-15.00 Обед
Приглашенные доклады
15.00-15.30 Дударев С.Л. «Моделирование и электронно-микроскопическое наблюдение нано-дефектов в материалах для термоядерных реакторов»
15.30-16.00 Авилов А.С. «Структурные исследования металлосодержащих наночастиц методами электронной кристаллографии»
Электронная микроскопия, электронная дифракция и микроанализ в исследовании новых материалов
16.00-16.20 Жигалина О.М. «Электронная микроскопия границ раздела тонких пленок ЦТС/ТБС»
16.20-16.40 Кукин В.Н. «Выявление мезопор в цеолите методами электронной микроскопии и фокусированного ионного пучка»
16.40-17.10 Cообщение представителей фирмы Gatan «Advantages of Direct Detection and Electron Counting for Electron Energy Loss Spectroscopy Data Acquisition» Paolo Longo
17.10-17.30 Кофе-брейк
Другие применения электронной микроскопии и комплементарных методов
17.30-17.45 Зарубин С.С. «Анализ тонких сегнетоэлектрических плёнок на основе Hf0,5Zr0,5O2 методами просвечивающей электронной микроскопии»
17.45-18.00 Богачев А.А. «Влияние высокоэнергетичного тяжелоионного облучения на наномасштабное состояние перспективных титановых сплавов и дисперсно-упрочненной оксидами стали»
18.00-18.15 Овчаров А.В. «Микроструктурный анализ сверхпроводящей ленты на основе YBCO после радиационного облучения ионами 131Xe с различными энергиями»
18.15-18.25 Cообщение представителей фирмы Tescan «Возможности сканирующих электронных микроскопов TESCAN при исследовании конструкционных и функциональных материалов», Миловзоров Н.Г.
18.25-18.35 Cообщение представителей фирмы Melytec «Современные настольные сканирующие электронные микроскопы компании "Phenom-World BV" (Нидерланды) – системы получения изображений и анализа»
10.00-20.00 Стендовая сессия:
Секция 2. Крио-ЭМ и применение электронной, конфокальной сканирующей микроскопии в биологии и медицине.
Секция 4. Растровая электронная и ионная микроскопия. In-situ исследования в РЭМ.
29 августа 2018 года
Приглашенные доклады
09.00-09.30 Маркс Л.Д. "Profile Imaging: 35 years old and still tracking"
09.30-10.00 Ищенко А.А. «Ultrafast electron diffraction and electron microscopy: Present status and future prospects»
10.00-10.30 Миллер Р. Дж. Двейн "Mapping Atomic Motions with Ultrabright Electrons: Realization of the Chemists’ Gedanken Experiment"
10.30-10.50 Рябов Е.А. «Сверхбыстрая электронная дифракция и динамическая просвечивающая электронная микроскопия в Институте спектроскопии РАН»
10.50-11.20 Николопулос С. "State of the art tem precession diffraction techniques: From 3d diffraction tomography to orientation imaging"
11.20-11.50 Cообщение представителей фирмы Thermo Fisher Scientific
11.50-12.10 Кофе-брейк
Электронная микроскопия в химии, геологии и метеоритоведении
12.10-12.30 Мохов А.В. «Возможности электронной микроскопии в изучении лунного грунта»
12.30-12.45 Горностаева Т.А. «Диагностика и изучение природных высокотемпературных стёкол методами электронной микроскопии»
12.45-13.00 Округин В.М. «О роли современных методов электронной и микрозондовой микроскопии в изучении техногенных отложений Мутновского геотермального комплекса (Южная Камчатка)»
Приглашенный доклад
13.00-13.30 Якимов Е.Б. «Исследование дефектов упаковки в 4H-SiC методами РЭМ»
Растровая электронная и ионная микроскопия. In-situ исследования в РЭМ
13.30-13.45 Вергелес П.С. «Исследование влияния облучения электронным пучком в РЭМ на дислокации, введенные при индентировании GaN»
13.45-14.00 Загорский Д.Л. «Металлические нано-проволоки различных типов: электронная микроскопия с элементным анализом»
14.00-14.15 Вербицкий В.Н. «Исследование морфологии поверхности и эффективности гетеропереходных фотоэлектрических преобразователей на основе квазимонокристаллических кремниевых пластин»
14.15-14.30 Cообщение представителей фирмы Tescan «Травление сфокусированным и расфокусированным ионным пучком как пробоподготовка для микротекстурного анализа EBSD», Лукашова М.В.
14.30-15.30 Обед
Крио-ЭМ и применение электронной, конфокальной сканирующей микроскопии в биологии и медицине
15.30-15.45 Жуховицкий В.Г. «Ультраструктура жгутиков Helicobacter pylori»
15.45-16.00 Шеваль Е.В. «Особенности компактизации хроматина в хромосомах растений с гигантским геномом»
16.00-16.15 Лисицын Ф.В. «Визуализация комплекса аденовирусной ДНК (ОА7) с концевыми белками»
16.15-16.30 Плехова Н.Г. «Структурные преобразования мезенхимальных стволовых клеток при контакте с биоактивными покрытиями на имплантатах»
16.30-16.45 Снигиревская Е.С. «Ультраструктура внутриклеточных органелл при апоптозе»
16.45-17.00 Селиванова О.М. «Новый механизм формирования амилоидных фибрилл»
17.00-17.10 Cообщение представителей фирмы Sernia «Аналитическое и технологическое оборудование», Коренев П.А.
17.10-17.30 Кофе-брейк
17.30-17.45 Асташонок А.Н. «Маркеры нарушения функции нервной системы у пациентов с болезнью Альцгеймера и прионными заболеваниями: ультраструктурные и наноскопические исследования»
17.45-18.00 Попенко В.И. «Трехмерная организация ядрышкового домена в пространстве соматического ядра инфузории Didinium nasutum и локализация ключевых ядрышковых белков в нём»
18.00-18.15 Бакеева Л.Е. «Особенности ультраструктуры митохондриального аппарата скелетной мышцы голого землекопа (Heterocephalus glaber)»
18.15-18.30 Евтюгин В.Г. «Особенности ультраструктуры покровов криобиотической пиявки Ozobranchus jantseanus. (Annelida; Hirudinea; Rhynchobdellida)»
19.30-21.30 Фуршет
09.00-19.30 Стендовая сессия:
Секция 1. Новые методы просвечивающей/растровой электронной микроскопии, электронной дифракции и микроанализа. Новые приборы, элементы электронной оптики, детекторы и обработка изображений.
Секция 5. Методы электронной микроскопии и микроанализа в исследовании предметов культурного наследия.
Секция 6. Сканирующая зондовая микроскопия.
Секция 8. Электронная и ионная литография. Микроскопия в современных технологиях.
Секция 9. Электронная микроскопия в химии, геологии и метеоритоведении.
Секция 10. Другие применения электронной микроскопии и комплементарных методов.
30 августа 2018 года
09.00-09.20 Олейников П.Н. «First woven covalent organic framework solved using electron crystallography»
09.20-09.50 Cообщение представителей фирмы Oxford Instruments «Применение новых ЭДС и EBSD детекторов компании Oxford Instruments в исследованиях наноструктурированных материалов», Козлов В.В.
Сканирующая зондовая микроскопия
09.50-10.15 Соколов Д.В. «Совместное использование методов сканирующей силовой микроскопии для определения электрофизических параметров индивидуальных многостенных углеродных нанотрубок»
10.15-10.30 Синицына О.В. «Изучение морфологии поверхности жидкокристаллического сополимера при фазовых переходах методом АСМ»
10.30-10.40 Cообщение представителей фирмы Conetech «Новые возможности атомно-силовой микроскопии от Nanosurf», Шуравин А.А.
Электронная и ионная литография. Микроскопия в современных технологиях
10.40-10.55 Казмирук В.В. «Оптимизация электронно-оптических систем электронно-лучевых литографов и растровых электронных микроскопов»
10.55-11.10 Петров Ю.В. «Литография сфокусированным ионным пучком с использованием усиленного травления неорганических тонких пленок»
Методы электронной микроскопии и микроанализа в исследовании предметов культурного наследия
11.10-11.25 Созонтов Е.А. «Средневековые письменные источники: комплексные исследования с использованием растровой электронной микроскопии, микроанализа и других комплементарных методов»
11.25-11.40 Кадикова И.Ф. «Применение электронной микроскопии при исследовании произведений искусства»
11.40-11.50 Сообщение представителей фирмы Tescan «Наблюдение пор нанометрового размера в диэлектриках средствами сканирующей электронной микроскопии», Сомов П.А.
11.50-12.00 Сообщение представителей фирмы Tescan «Автоматизированный минералогический анализ многокомпонентных образцов, содержащих составляющие близкого состава. Различение гематита и магнетита», Сорокопудова Ю.В.
12.00-12.15 Сообщение представителей фирмы Technoinfo «Цифровой анализ пород как комплексный метод изучения керамики и иных образцов культурного наследия», Корнейчик О.Е.
12.15 Закрытие конференции
12.15-12.30 Авилов А.С. Завершающее слово. Подведение итогов
15.30 Экскурсия и фуршет на корабле
09.00-12.30 Стендовая сессия:
Секция 3. Электронная микроскопия, электронная дифракция и микроанализ в исследовании новых материалов.