Лаборатория электронографии - Научное оборудование

 

Электронограф ЭМР 102 – электронная дифракционная камера с возможностью получать дифракционные картины на просвет и на отражение в широком интервале углов, работает при ускоряющих напряжениях 80 и 100 КэВ.


Просвечивающий электронный микроскоп FEI Osiris (Центр коллективного пользования "Структурная диагностика материалов" ИК РАН) – аналитический электронный микроскоп, работающий при ускоряющем напряжении 80-200 КэВ, оборудован источником электронов XFEG и детектором Super-X EDX (4 SDD детектора). Предназначен для исследования структуры материалов (химический и фазовый анализ) с разрешением 0,24 нм в режиме просвечивающей электронной микроскопии и 0,18 нм в режиме сканирующей просвечивающей электронной микроскопии. Могут быть решены задачи аналитической высокоразрешающей электронной микроскопии для широкого спектра материалов. Технологии ChemiSTEM позволяют выполнять анализ на субнанометровом уровне и трехмерную томографию в режиме энерго-дисперсионной спектрометрии, включая распределения легких элементов.


Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения Tecnai G2 30 S-TWIN (Центр коллективного пользования "Структурная диагностика материалов" ИК РАН) – работает при ускоряющем напряжении 200 КэВ с катодом из гексаборида лантана. Предназначен для исследования структуры образцов с разрешением 0,25 нм. Могут быть решены задачи 3D томографии, структурной электронографии, химического микроанализа.


Высокоразрешающий автоэмиссионный растровый электронный микроскоп FEI Scios с ионной пушкой (Центр коллективного пользования "Структурная диагностика материалов" ИК РАН) – двухлучевой аналитический сканирующий электронный-ионный микроскоп решает задачи в материаловедении, структурной и молекулярной биологии. 3D томография, выполняемая с помощью электронного и ионного пучка позволяет увидеть структуру клеток с высоким разрешением.


Оборудование для пробоподготовки и отчистки образцов – для электронной микроскопии и электронографии.