1. Растровая электронная микроскопия (РЭМ) с регистрацией вторичных и обратно рассеянных электронов. Восстановление трехмерной структуры поверхности. Применение энергодисперсионного рентгеновского микроанализа в РЭМ. Дифракция электронов в РЭМ на отражение (Electron backscattering diffraction -EBCD).

2. Фокусированный ионный пучок в РЭМ. Slice-and-view метод трехмерной реконструкции материалов. Lift-out метод подготовки образцов для просвечивающей/растровой электронной микроскопии (П/РЭМ).

3. Просвечивающая и просвечивающая растровая электронная микроскопия. Дифракционный и фазовый контраст. Энергодисперсионный рентгеновский микроанализ в П/РЭМ.

4. Элетронно-дифракционные исследования, в том числе в сходящемся пучке.

5. Рентгенофазовый анализ и другие комплементарные методы.