Электронограф ЭМР 102

Электронная дифракционная камера с возможностью получать дифракционные картины на просвет и на отражение в широком интервале углов, работает при ускоряющих напряжениях 25, 50, 75 и 100 кэВ. Прибор позволяет работать с приставками нагрева образцов до примерно 9000С и охлаждения до температуры жидкого азота.

Регистрация электронограмм производится на фотопластинки, "Изображающие пластины" и с помощью неподвижных ФЭУ и сцинтиллятора. В последнем случае осуществляется двумерное сканирование дифракционной картины перед неподвижным детектором. Точность измерения картины в последнем случае составляет ок. 0,1 %. Пространственное (угловое) разрешение практически не ограничено. Есть возможность измерения электронограмм в режиме "кинематической" съемки (в экране открыта узкая щель и фотопластинка продвигается пошагово на размер щели).

Электронограф ЭМР-110К

Полностью автоматизированная дифракционная камера, работающая в режимах "на просвет" и на "отражение", в диапазоне углов по (sin θ)/λ от 0 до 2.0 Å-1. Ускоряющее напряжение плавно регулируется от 10 до 100 кэВ с точностью 0,5 кэВ. Прибор позволяет нагревать образец до 9000С. Регистрация электронограмм производится на фотопластинки, "Изображающие пластины" и с помощью сканирования дифракционной картины перед неподвижным приемником (ФЭУ и сцинтиллятором).
Оборудование для пробоподготовки образцов для электронной микроскопии и электронографии.

Просвечивающий электронный микроскоп FEI Osiris (Центр коллективного пользования "Структурная диагностика материалов")

Аналитический электронный микроскоп, работающий при ускоряющем напряжении 80-200 КэВ, оборудован источником электронов XFEG и детектором Super-X EDX (4 SDD детектора). Предназначен для исследования структуры материалов (химический и фазовый анализ) с разрешением 0,24 нм в режиме просвечивающей электронной микроскопии и 0,18 нм в режиме сканирующей просвечивающей электронной микроскопии. Могут быть решены задачи аналитической высокоразрешающей электронной микроскопии для широкого спектра материалов. Технологии ChemiSTEM позволяют выполнять анализ на субнанометровом уровне и трехмерную томографию в режиме энерго-дисперсионной спектрометрии, включая распределения легких элементов.

Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения Tecnai G2 30 S-TWIN (Центр коллективного пользования "Структурная диагностика материалов")

Работает при ускоряющем напряжении 200 КэВ с катодом из гексаборида лантана. Предназначен для исследования структуры образцов с разрешением 0,25 нм. Могут быть решены задачи 3D томографии, структурной электронографии, химического микроанализа.

Высокоразрешающий автоэмиссионный растровый электронный микроскоп FEI Scios с ионной пушкой (Центр коллективного пользования "Структурная диагностика материалов")

Двухлучевой аналитический сканирующий электронный-ионный микроскоп решает задачи в материаловедении, структурной и молекулярной биологии. 3D томография, выполняемая с помощью электронного и ионного пучка позволяет увидеть структуру клеток с высоким разрешением.