Исследования проводятся на оборудовании Центра коллективного пользования "Структурная диагностика материалов" Института кристаллографии им. А.В. Шубникова:

♦ Просвечивающий электронный микроскоп Tecnai Osiris FEI.

Просвечивающий электронный микроскоп с ускоряющим напряжением 200 кВ, разрешающей способностью по точкам 2,5 ангстрема, по линиям – 1,02 ангстрема. В комплекте микроскопа имеются: гониометрическая головка, ПЗС-камера для регистрации изображений, приставка энергодисперсионного анализа для определения химического состава образцов, приставка просвечивающе-растрового режима, широкоугловой детектор тёмного поля для получения изображений с Z-контрастом.

♦ Автоэмиссионный растровый электронно-ионный (FIB) микроскоп Scios FEI.

Прибор предназначен для решения большого спектра задач в материаловедении, таких как: получение микроскопических изображений в электронных и ионных пучках c высококим разрешением, в том числе в низковольном режиме и режиме торможения пучка, локальное травление и приготовление образцов для просвечивающей электронной микроскопии, благодаря наличию четырех типов детекторов позволяет получать изображения в разных контрастах в режиме реального времени, а также решение задач ионной литографии. Содержит электронную и ионную колонны, системы для локального напыления и штатный манипулятор EasyLift.

♦ Растровый электронно-ионный микроскоп FIB Quanta 200 3D FEI.

Предназначен для решения большого спектра задач в материаловедении, таких как: получение микроскопических изображений в электронных и ионных пучках, элементный и кристаллографический анализ образцов, локальное травление и приготовление образцов для просвечивающей электронной микроскопии. Содержит электронную и ионную колонны, системы для локального напыления, 2 манипулятора фирмы Kleindeik, систему рентгеновского микроанализа и дифракции обратно рассеянных электронов (Genesys) фирмы EDAX, режим низкого вакуума и естественной среды.

♦ Порошковый дифрактометр X’PERT PRO PANalytical.

Предназначен для исследования поликристаллических (порошковых) объектов (фазовый состав, параметры ячейки, реальная (дефектная) структура) и другие работы.

♦ Установка плазменной очистки Fiscione NanoClean 1070.