logo

logo

Основные публикации

 

За 2020 год:

1.  В.В. Волков, П.В. Конарев, А.Е.Крюкова. Комбинированная схема восстановления функции распределения частиц по размерам с использованием данных малоуглового рассеяния. // Письма в ЖЭТФ, 2020. Т. 112. Вып. 9. С. 632–636.
DOI:10.31857/S1234567820210107.

2.   O.V. Dement’eva, K.A. Naumova, S.K. Zhigletsova, M.V. Klykova, A.N. Somov, I.A. Dunaytsev, I.N. Senchikhin, V.V. Volkov, V.M. Rudoy Drug-templated mesoporous silica nanocontainers with extra high payload and controlled release rate. // Colloids and Surfaces B: Biointerfaces, 2020. V. 185. № 1. P. 1-6 DOI: 10.1016/j.colsurfb.2019.110577.

3.  Huang, I.V. Kozhevnikov, A. Sokolov, Y. Zhuang, T. Li, J. Feng, F. Siewert, J. Viefhaus, Z. Zhang, Z. Wang. Theoretical analysis and optimization of highly efficient multilayer-coated blazed gratings with high fix-focus constant for the tender X-ray region. // Optics express, 2020. V. 28. P. 821-845.
DOI: 10.1364/OE.28.000821J.

4.  Zhang, S. Fang, I.V. Kozhevnikov, X. Cheng, Z. Wang. Interference suppression of light backscattering through oblique deposition of high-reflectivity multilayers: a theoretical analysis. // Optics Express, 2020. V. 28. I. 21. P. 30626-30643.
DOI: 10.1364/OE.404097.

5.  А.А. Ширяев, Д.А. Золотов, А.М. Супрун, И.Г. Дьячкова, А.С. Ивахненко, В.Е. Асадчиков. Вклад структурных дефектов в интенсивность квазизапрещенных рентгеновских отражений алмаза: сравнение данных рентгеновской топографии и инфракрасной спектроскопии. // Письма в ЖЭТФ, 2020. T. 111. № 9. C. 597–601.
DOI: 10.31857/S1234567820090049.

6. A. Buzmakov, M. Chukalina, I. Dyachkova, A. Ingacheva, D. Nikolaev, D. Zolotov, I. Schelokov. Enhanced tomographic sensing multimodality with a crystal analyzer. // Sensors, 2020. V. 20. № 23. P. 6970–6985.
DOI: 10.3390/s20236970.

7.  Ю.С. Кривоносов, В.Е. Асадчиков, А.В. Бузмаков. Получение фазоконтрастных изображений в полихроматическом рентгеновском пучке на лабораторном источнике. // Кристаллография, 2020. Т. 65. № 4. С. 509–514.
DOI: 10.31857/S002347612004013X.

8.  I. Bukreeva, O. Junemann, A. Cedola, F. Palermo, L. Maugeri, G. Begani Provinciali, N. Pieroni, A. Sanna, D. A. Otlyga, A. Buzmakov, Yu. Krivonosov, D. Zolotov, M. Chukalina, A. Ivanova, S. Saveliev, V. Asadchikov, M. Fratini. Investigation of the human pineal gland 3D organization by X-ray phase contrast tomography. // Journal of Structural Biology, 2020. V. 212. P. 107659.
DOI: 10.1016/j.jsb.2020.107659.

9.  P.V. Konarev, M.V. Petoukhov, L.A. Dadinova, N.V. Fedorova, P.E. Volynsky, D. I. Svergun, O. V. Batishchev, E. V. Shtykova. BILMIX: a new approach to restore the size polydispersity and electron density profiles of lipid bilayers from liposomes using small-angle X-ray scattering data. // Journal of Applied Crystallography, 2020. V. 53. P. 236—243.
DOI: 10.1107/S1600576719015656.

10.  A.I. Shpichka, P.V. Konarev, Y. M. Efremov, A.E. Kryukova, N.A. Aksenova, S.L. Kotova, A.A. Frolova, N.V. Kosheleva, O.M. Zhigalina, V.I. Yusupov, D.N. Khmelenin, A. Koroleva, V.V. Volkov, V.E. Asadchikov, P.S. Timashev. Digging Deeper: Structural Background of PEGylated Fibrin Gels in Cell Migration and Lumenogenesis. // RSC Advances, 2020. V. 10. P. 4190—4200.
DOI: 10.1039/c9ra08169k.

11.  N. Novikova, M. Kovalchuk, O. Konovalov, N. Stepina, A. Rogachev, A. Belov, O. Maksimenko, V. Tarasov, S. Gelperina, J. Kreuter, S. Yakunin. X-Ray Reflectivity and Diffraction Studies of Doxorubicin Binding to Model Lipid Membranes. // BioNanoScience, 2020. V. 10. № 2. P. 1–7.
DOI: 10.1007/s12668-020-00742-0.

12.  М.А. Чуев, Г.В. Пруцков, Н.Н. Новикова, Э.М. Пашаев, О.В. Коновалов, Н.Д. Степина, А.В. Рогачев, С.Н. Якунин. Теоретический формализм для анализа дифракционного рассеяния рентгеновского излучения на двумерных кристаллах. // Кристаллография, 2020. Т. 65. № 5. С. 800–807.
DOI: 10.31857/S0023476120050045.

13.  V. Elagin, D. Kuznetsova, E. Grebenik, D.A. Zolotov, L. Istranov, T. Zharikova, E. Istranova, A. Polozova, D. Reunov, A. Kurkov, A. Shekhter, E.R. Gafarova, V. Asadchikov, S.M. Borisov, R.I. Dmitriev, E. Zagaynova, P. Timashev. Multiparametric Optical Bioimaging Reveals the Fate of Epoxy Crosslinked Biomeshes in the Mouse Subcutaneous Implantation Model. // Frontiers in bioengineering and biotechnology, 2020. V. 8. P. 107.
DOI: 10.3389/fbioe.2020.00107.

14.  D. Zolotov, A. Buzmakov, M. Grigoriev, I. Schelokov. Dual-energy crystal-analyzer scheme for spectral tomography. // Journal of Applied Crystallography, 2020. V. 53. P. 781-788.
DOI: 10.1107/S1600576720005439.

15.  Y.M. Alexandrovskaya, O.I. Baum, A.V. Yuzhakov, V.M. Svistushkin, A.V. Buzmakov, Y.S. Krivonosov, B.S. Roshchin, D.A. Zolotov. IR laser effect on healthy and ossified costal cartilage: the development of stable load-bearing autoimplants. // Lasers in Surgery and Medicine, 2020.
DOI: 10.1002/lsm.23266.

 

За 2019 год:

1. Г.К. Владимиров, В.Е. Ременщиков, А.М. Нестерова, В.В. Волков, Ю.А. Владимиров. Сравнение размеров и свойств наносфер комплекса цитохрома С с кардиолипином в осадке и в неполярной среде. // Биохимия, 2019. Т. 84. Вып. 8. С. 1167–1176.
DOI: 10.1134/S0320972519080098.

2.  J. Zhang, H. Wu, I. V. Kozhevnikov, S. Shi, X. Cheng, Z. Wang. Interference suppression of light backscattering through oblique deposition of a layered reflecting coating: Bi-layer on a substrate. // Optics Express, 2019. V. 27. I. 11. P. 15262-15282.
DOI: 10.1364/OE.27.015262.

3.  В.Е. Асадчиков, И.Г. Дьячкова, Д.А. Золотов, Ю.С. Кривоносов, Ф.Н. Чуховский. Рентгеновская диагностика дефектов микроструктуры кристаллов кремния, облученных ионами водорода. // Журнал Технической физики, 2019. Т. 89. Вып. 5. С. 731–736.
DOI: 10.21883/JTF.2019.05.47476.346-18.

4.  В.Е. Асадчиков, И.Г. Дьячкова, Д.А. Золотов, Ф.Н. Чуховский, Л.М. Сорокин. Об изменении реальной структуры кристаллов кремния, имплантированных ионами водорода, при их отжиге по данным трехкристальной рентгеновской дифрактометрии. // Физика твердого тела, 2019. Т. 61. Вып. 8. С. 1437–1442.
DOI: 10.21883/FTT.2019.08.47966.430.

5.  В Е. Асадчиков, И.Г. Дьячкова, Д.А. Золотов, Ф.Н. Чуховский, Л.М. Сорокин. Изучение микроструктуры кристаллов Si, подвергнутых облучению быстрыми Н+-ионами и термообработке, методами высокоразрешающей трехкристальной рентгеновской дифрактометрии и электронной просвечивающей микроскопии. // Физика твердого тела, 2019. Т. 61. Вып. 10. С. 1754–1762.
DOI: 10.21883/FTT.2019.10.48245.498.

7.  В.Е. Асадчиков, А.В. Бузмаков, И.Г. Дьячкова, Д.А. Золотов, А.Г. Иванова, Ю.С. Кривоносов, В.В. Пантюшов, Р.Г. Сайфутдинов, А.Э. Волошин. Результаты исследований камней желчного пузыря методом рентгеновской микротомографии. // Известия РАН. Серия Физическая, 2019. Т. 83. № 2. С. 181-186.
DOI: 10.1134/S0367676519020042.

8.  A.E. Kryukova, P.V. Konarev, V.V. Volkov, V.E. Asadchikov. Restoring silicasol structural parameters using gradient and simulation annealing optimization schemes from small-angle X-ray scattering data. // Journal of Molecular Liquids, 2019. V. 283. P. 221-224.
DOI: 10.1016/j.molliq.2019.03.070.


9. F.N. Chukhovskii, P.V. Konarev, V.V. Volkov. X-Ray Diffraction Tomography Recovery of the 3D Displacement-Field Function of the Coulomb-Type Point Defect in a Crystal. // Scientific Reports, 2019. V. 9. P. 14216.
DOI:10.1038/s41598-019-50833-6.

10.  С.Н. Якунин, М.В. Ковальчук, Э.А. Юрьева, Н.Д. Степина, А.В. Рогачев, М.А. Кременная, Г.Э. Яловега, О.В. Космачевская, А.Ф. Топунов. Возможности рентгеновской абсорбционной спектроскопии в геометрии полного внешнего отражения для исследования белковых пленок на жидкости. // Кристаллография, 2019. Т. 64. № 6. С. 931–937
DOI: 10.1134/S0023476119060134.

 

За 2018 год:

1.  А.А. Семенов, В.В. Волков, А.В. Забродин, В.В. Горлевский, М.С. Шевердяев, А.В. Лизунов, Д.А. Брылёв, А.С. Аникин, А.В. Демин, А.Л. Небера, И.А. Морозов, И.Г. Лесина, Е.В. Козлова, С.С. Клыков, И.Б. Куприянов, А.И. Жиделёв, В.Е. Асадчиков, А.В. Бузмаков, Б.С. Рощин, Л.А. Дадинова, Д.И. Чекрыгина, С.В. Амарантов, О.М. Жигалина, Д.Н. Хмеленин, Р.А. Сенин, А.А. Велигжанин, П.А. Александров. Исследование материалов на основе бериллия и сопоставление их рентгеновской гомогенности по данным малоуглового рассеяния. // Кристаллография, 2018. Т. 63. № 6. С. 866–875.
DOI: 10.1134/S0023476118060279

2.  M. Wen, I.V. Kozhevnikov, F. Siewert, A.V. Buzmakov, C. Xie, Q. Huang, Z. Wang, L. Samoilova, H. Sinn. Effect of the surface roughness on X-ray absorption by mirrors operating at extremely small grazing angles. // Optics Express, 2018. V. 26. I. 4. P. 21003-21018.
DOI: https://doi.org/10.1364/OE.26.021003

3.  V. Asadchikov, A. Buzmakov, F. Chukhovskii, I. Dyachkova, D. Zolotov, A. Danilewsky, T. Baumbach, S. Bode, S. Haaga, D. Hänschke, M. Kabukcuoglu, M. Balzer, M. Caselle, E. Suvorov. X-ray topo-tomography studies of linear dislocations in silicon single crystals. // Journal of Applied Crystallography, 2018. V. 51. P. 1616–1622.
DOI: 10.1107/S160057671801419X

4.  A.A. Shiryaev, D.A. Zolotov, O.M. Suprun, S.A. Ivakhnenko, A.A. Averin, A.V. Buzmakov, V.V. Lysakovskyi, I.G. Dyachkova, V.E. Asadchikov. Unusual types of extended defects in synthetic high pressure – high temperature diamonds. // CrystEngComm, 2018. V. 20. P. 7700–7705.
DOI:10.1039/C8CE01499J

5.  P.V. Konarev, D.I. Svergun. Direct shape determination of intermediates in evolving macromolecular solutions from small-angle scattering data. // IUCr Journal, 2018. V. 5. P. 402-409.
DOI: 10.1107/S2052252518005900

6. Н.Н. Новикова, С.Н. Якунин, В.Н. Морозов, Е.А. Шляпникова, И.Л. Канев, Ю.М. Шляпников, Н.Д. Степина, А.В. Рогачев, М.В. Ковальчук. Исследования молекулярных механизмов взаимодействия наноаэрозольных частиц с модельной мембраной. // Кристаллография, 2018. Т. 63. № 2. С. 248–253.

 

За 2017 год:

1.  В.В. Волков, В.В. Дмитриев, Д.В. Золотухин, А.А. Солдатов, А.Н. Юдин. Метод получения образцов упорядоченного аэрогеля различной плотности. // Приборы и техника эксперимента, 2017. № 5. С. 130–135.
DOI: 10.7868/S0032816217050123.

2.  D. Franke, M.V. Petoukhov, P.V. Konarev, A. Pankovich, A. Tuukkanen, H.D. T. Mertens, A.G. Kikhney, N.R. Hajizadeh, J.M. Franklin, C.M. Jeffries, D.I. Svergun. ATSAS 2.8, a comprehensive data analysis suite for small angle scattering from macromolecular solutions. // Journal of Applied Crystallography, 2017. V. 50. P. 1212-1225.
DOI: 10.1107/S1600576717007786.
3.  P.V. Konarev, M.V. Petoukhov, D.I. Svergun. Rapid automated superposition of shapes and macromolecular models using spherical harmonics. // Journal of Applied Crystallography, 2016. V. 49. P. 953—960.
DOI: 10.1107/S1600576716005793.
4.  P.V. Konarev, V.V. Volkov, D.I. Svergun. Interactive graphical system for small-angle scattering analysis of polydisperse systems. // Journal of Physics: Conference Series, 2016. V. 747. P. 012036.
DOI: 10.1088/1742-6596/747/1/012036.
5.  A.S. Boikova, Y A. Dyakova, K.B. Ilina, P.V. Konarev, A.E. Kryukova, A.I. Kuklin, M.A. Marchenkova, B.V. Nabatov, A.E. Blagov, Y.V. Pisarevsky, M.V. Kovalchuk. Octamer formation in lysozyme solutions at the initial crystallization stage detected by small-angle neutron scattering. // Acta Crystallographica, 2017. V. D73. P. 591–599.
DOI: 10.1107/S2059798317007422.

 

За 2016 год:

1.  V. Kozhevnikov, A. V. Buzmakov, F. Siewert, K. Tiedke, M. Stormer, L. Samoylova, H. Sinn. Growth of nano-dots on the grazing incidence mirror surface under FEL irradiation. // Journal of Synchrotron Radiation, 2016. V. 23. No. 4. P. 78-90.
DOI: 10.1107/S160057751502202X
2.  M. Dell’Angela, F. Hieke, M. Malvestuto, L. Sturari, S. Bajt, I. V. Kozhevnikov, A. Caretta, B. Casarin, F. Glerean, A. Kalashnikova, R. Pisarev, Y. D. Chuang, G. Manzoni, F. Cilento, R. Mincigrucci, A. Simoncig, E. Principi, C. Masciovecchio, C. Svetina, M. Zangrando, R. Passuello, G. Gaio, M. Prica, M. Scarcia, G. Kourousias, R. Borghes, L. Giannessi, W. Wurth, F. Parmigiani. Extreme ultraviolet resonant inelastic X-ray scattering (RIXS) at a seeded free-electron laser. // Scientific Reports, 2016. V. 6. No. 1. P. 1-8.
DOI:10.1038/srep38796.

 

За 2015 год:

1.   С.В. Савельев, В.Е. Асадчиков, А.В. Бузмаков, Д.А. Золотов, В.И. Гулимова, Р.А. Сенин. Рентгеновская микротомография и рентгенофлуоресцентный анализ кисти плодов человека 11-21-й недель развития. // Клиническая и экспериментальная морфология, 2015, № 1 (13), С. 33-42.

2.   И.А. Прохоров, В.Е. Асадчиков, Б.С. Рощин, В.И. Стрелов, В.Г. Ральченко, А.П. Большаков. Рентгенодифракционная характеризация синтетических кристаллов граната, алмаза и сапфира. // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2015, № 5, С. 52-60.

3.   V.V. Yashchuk, L. Samoylova, I.V. Kozhevnikov. Specification of x-ray mirrors in terms of system performance: new twist to an old plot. // Optical Engineering, 2015, V. 54, Issue 2, P. 025108.

4.   I.V. Kozhevnikov, E.O. Filatova, A.A. Sokolov, A.S. Konashuk, F. Siewert, M. Stormer, G. Gaudin, B. Keitel, L. Samoylova, H. Sinn. Comparative study of the X-ray reflectivity and in-depth profile of a-C, B4C, and Ni coatings for 0.1-2 keV. // Journal of Synchrotron Radiation, 2015, V. 22, Part 2, P. 348-353.

5.   X. Yang, I.V. Kozhevnikov, Q. Huang, Z. Wang. Unified analytic theory of single-order soft X-ray multilayer gratings. // Journal of the Optical Society of America B, 2015, V. 32, Issue 4, P. 506-522.

6.   I.V. Kozhevnikov, A.E. Yakshin, F. Bijkerk. Wideband multilayer mirrors with minimal layer thicknesses variation. // Optics Express, 2015, V. 23, Issue 7, P. 9276-9283.

7.   A. Buzmakov, M. Chukalina, D. Nikolaev, V. Gulimova, S. Saveliev, E. Tereschenko, A. Seregin, R. Senin, D. Zolotov, V. Prun, G. Shaefer and V. Asadchikov. Monochromatic computed microtomography using laboratory and synchrotron sources and X-ray fluorescence analysis for comprehensive analysis of structural changes in bones. // Journal of Applied Crystallography, 2015, V. 48, Part 3, P. 693-701.

8.   M. Wen, I.V. Kozhevnikov, Z. Wang. Reflection of X-rays from a rough surface at extremely small grazing angles. // Optics Express, 2015, V. 23, Issue 19, P. 24220-24235.

За 2014 год:

1.   И.В. Якимчук, А.В. Бузмаков, А.В. Андреев, В.Е. Асадчиков. Особенности диагностики качества вогнутых сферических поверхностей скользящим рентгеновским пучком. // Журнал технической физики, 2014, Т. 84, № 1, С. 145.

2.   В.Е. Асадчиков, А.В. Бузмаков, Д.А. Золотов, И.В. Якимчук. Микротомография – взгляд в невидимое. // Природа, 2014, № 2 (1182), С. 9-17.

3.   S. Roling, H. Zacharias, L. Samoylova, H. Sinn, Th. Tschentscher, O. Chubar, A. Buzmakov, E. Schneidmiller, M. V. Yurkov, F. Siewert, S. Braun, P. Gawlitza. Time-dependent wave front propagation simulation of a hard x-ray split-and-delay unit: Towards a measurement of the temporal coherence properties of x-ray free electron lasers. // Physical Review ST Accelerators and Beams, 2014, V. 17, Issue 11, P. 110705.

4.   E.O. Filatova, I.V. Kozhevnikov, A.A. Sokolov, A.S. Konashuk, F. Schaefers, M. Popovici, V.V. Afanas'ev. Application of soft X-ray reflectometry for analysis of underlayer influence on structure of atomic-layer deposited SrTixOy films. // Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, 2014, V. 196, P. 110-116.

 

За 2013 год:

1.   Ю.О. Волков, И.В. Кожевников, Б.С. Рощин, Е.О. Филатова, В.Е. Асадчиков. Модельный подход к решению обратной задачи рефлектометрии и его применение для исследования внутренней структуры пленок оксида гафния. // Кристаллография, 2013, Т. 58, № 1, С. 146.

2.   И.В. Якимчук, И.В. Кожевников, В.Ю. Политов, В.Е. Асадчиков. Эллипсоидальные концентраторы для лабораторных рентгеновских источников: аналитический подход к оптимизации. // Кристаллография, 2013, Т. 58, № 2, С. 337-347.

3.   Р.А. Сенин, А.С. Хлебников, А.Е. Вязовецкова, И.А. Блинов, А.О. Голубицкий, И.В. Казаков, А.А. Воробьев, А.В. Бузмаков, В.Е. Асадчиков, В.А. Шишков, Э.Х. Мухамеджанов, М.В. Ковальчук. Модернизированная станция "рентгеновская топография и микротомография" на курчатовском источнике синхротронного излучения. // Кристаллография, 2013, Т. 58, № 3, С. 510.

4.   В.Е. Прун, А.В. Бузмаков, Д.П. Николаев, М.В. Чукалина, В.Е. Асадчиков. Вычислительно эффективный вариант алгебраического метода компьютерной томографии. // Автоматика и телемеханика, 2013, № 10, С. 86-97.

5.   R. van der Meer, I. Kozhevnikov, B. Krishnan, J. Huskens, W. van der Wiel, P. Hegeman, C. Brons, B. Bastiaens, K. Boller, F. Bijkerk. Single-order operation of lamellar multilayer gratings in the soft x-ray spectral range. // AIP Advances, 2013, V. 3, Issue 1, P. 012103.

6.   R. van der Meer, I.V. Kozhevnikov, H.M.J. Bastiaens, K.-J. Boller, F. Bijkerk. Extended theory of soft x-ray reflection for realistic lamella multilayer gratings. // Optics Express, 2013, V. 21, Issue 11, P. 13105-13117.

7.   E.O. Filatova, I.V. Kozhevnikov, A.A. Sokolov, Yu.V. Yegorova, A.S. Konashuk, O.Yu. Vilkov, F. Schaefers, M. Gorgoi, A.S. Shulakov. X-ray and photoelectron spectroscopic nondestructive methods for thin films and interfaces study. Application to SrTiO3 based heterostuctures. // Microelectronic Engineering, 2013, V. 109, P. 13-16.

8.   V.E. Asadchikov, A.V. Butashin, V.M. Kanevsky, A.E. Muslimov, B.S. Roshchin. Synthetic sapphire: Growth and surface investigations. // in book Sapphire: Structure, Technology, and Application. Editor I. Tartaglia, Nova Science Publishers. NY, 2013, Р. 35-75.

 

За 2012 год:

1.   И.В. Якимчук, А.В. Бузмаков, А.В. Андреев, В.Е. Асадчиков. Исследование качества вогнутых сферических поверхностей скользящим пучком рентгеновского излучения. // Кристаллография, 2012, Т. 57, № 2, С. 341-344.

2.   И.В. Кожевников. Общие закономерности отражения рентгеновского излучения от шероховатых поверхностей. II. Конформные шероховатости. // Кристаллография, 2012, Т. 57, № 4, С. 558-567.

3.   В.Е. Асадчиков, Р.А. Сенин, A.Е. Благов, А.В. Бузмаков, В.И. Гулимова, Д.А. Золотов, А.С. Орехов, А.С. Осадчая, К.М. Подурец, С.В. Савельев, А.Ю. Серегин, Е.Ю. Терещенко, М.В. Чукалина, М.В. Ковальчук. Сопоставление данных рентгеновской микротомографии и флуоресцентного анализа при изучении структурной организации костной ткани. // Кристаллография, 2012, Т. 57, № 5, С. 782-790.

4.   В.Е. Асадчиков, А.В. Бузмаков, Д.А. Золотов, И.В. Якимчук, Р.А. Сенин, Ю.И. Дудчик, И.С. Смирнов, А.А. Коновко, С.В. Савельев, В.И. Гулимова. Томографические методы исследования микрообъектов и изогнутых поверхностей. // Мир измерений, 2012, № 6 (136), С. 22-31.

5.   В.Е. Асадчиков, И.В. Кожевников, Б.С. Рощин, Ю.О. Волков, А.Э. Муслимов, В.М. Каневский, М.Л. Занавескин. Анализ наношероховатости поверхности методами рентгеновского рассеяния и атомно-силовой микроскопии. // Мир измерений, 2012, № 7, С. 11-17.

6.   E.O. Filatova, I.V. Kozhevnikov, A.A. Sokolov, E.V. Ubiyvovk, S. Yulin, M. Gorgoi, F. Schaefers. Soft X-ray reflectometry, hard X-ray photoelectron spectroscopy and transmission electron microscopy investigations of the internal structure of TiO2(Ti)/SiO2/Si stacks. // Science and Technology of Advanced Materials, 2012, V. 13, № 1, P. 015001.

7.   I.V. Kozhevnikov, L. Peverini, E. Ziegler. Development of a self-consistent free-form approach for studying the three-dimensional morphology of a thin film. // Physical Review B, 2012, V. 85, Issue 12, P. 125439.

8.   E.O. Filatova, A.A. Sokolov, I.V. Kozhevnikov. Characterization of high-k dielectrics internal structure by X-ray spectroscopy and reflectometry. New approaches to inter layer identification and analysis. // Chapter 7 in the book High-k Gate Dielectrics for SMOS Technology. Editors Gang He and Zhaoqi Sun, Wiley-VCH Verlag. Weinhem, Germany, 2012, P. 225-271.

9.   V.E. Asadchikov, A.V. Buzmakov, A.S. Osadchaya, D.A. Zolotov, M.K. Rafailov. Characterization of oil nano-structures with monochromatic x-ray micro-tomography. // Proceedings of SPIE Volume 8460. The International Society for Optical Engineering. Biosensing and Nanomedicine V, 84600V (2012).

 

За 2011 год:

1.   Д.А. Золотов, А.В. Бузмаков, В.Е. Асадчиков, А.Э. Волошин, В.Н. Шкурко, И.С. Смирнов. Исследование внутренней структуры монокристалла фторида лития методом рентгеновской топо-томографии в лабораторных условиях. // Кристаллография, 2011, Т. 56, № 3, С. 426-430.

2.   И.В. Якимчук, A.В. Бузмаков, В.Е. Асадчиков, Ю.С. Скибина, Н.Б. Скибина, В.И. Белоглазов. Исследование эффективности применения аксиально-симметричных отражательных рентгенооптических элементов из стекла на лабораторных источниках. // Заводская лаборатория. Диагностика материалов, 2011, Т. 77, № 6, С. 26-32.

3.   А.С. Геранин, А.В. Бузмаков, Ю.О. Волков, Д.А. Золотов, Б.С. Рощин, И.В. Якимчук, В.Е. Асадчиков, И.С. Смирнов, В.Н. Шкурко. Реализация рентгеновских томографических схем с применением различных кристаллов-монохроматоров. // Заводская лаборатория. Диагностика материалов, 2011, Т. 77, № 10, С. 41-44.

4.   В.Е. Асадчиков, В.В. Волков, Ю.О. Волков, К.А. Дембо, И.В. Кожевников, Б.С. Рощин, Д.А. Фролов, А.М. Тихонов. Конденсация наночастиц кремнезема на фосфолипидной мембране. // Письма в ЖЭТФ, 2011, Т. 94, С. 625-628.

5.   И.В. Якимчук, А.В. Бузмаков, А.В. Андреев, В.Е. Асадчиков. Рентгеновское томографическое изображение депозита на сферической поверхности. // Письма в ЖЭТФ, 2011, Т. 94, В. 9, С. 738-741.

6.   V.E. Asadchikov, A.I. Chulichkov, A.V. Buzmakov, M.V. Chukalina, D.P. Nikolaev, R.A. Senin, G. Schaefer. Morphological Analysis and Reconstruction for Computed Tomography. // International Journal of Computer Information Systems and Industrial Management Applications (IJCISIM), 2011, V. 3, P. 019-025.

7.   I.V. Kozhevnikov, R. van der Meer, H.J.M. Bastiaens, K.-J. Boller, F. Bijkerk. Analytic theory of soft X-rays diffraction by lamellar multilayer gratings. // Optics Express, 2011, V. 19, P. 9172-9184.

8.   L. Samoylova, A. Buzmakov, G. Geloni, O. Chubar, H. Sinn. Cross-platform wave optics software for XFEL applications. // Proceedings of SPIE Volume 8141. Advances in Computational Methods for X-Ray Optics II, 81410A (2011); DOI: 10.1117/12.893044.