Основные направления исследований лаборатории кристаллооптики в настоящее время:

1. Исследование связи оптических свойств, в том числе оптической активности и показателей преломления, со структурой для кристаллов разных классов симметрии. Расчет оптических параметров кристаллов по структурным данным.

2. Компьютерное моделирование и численные расчеты оптических свойств гиротропных поглощающих кристаллов различных классов симметрии.

3. Экспериментальное исследование оптических свойств различных кристаллов, полупроводниковых и органических пленок и многослойных структур, полиэлектролитных микрокапсул с красителями методами спектрофотометрии, флуориметрии и эллипсометрии.

4. Разработка оригинального программного обеспечения для решения прямых задач по определению характеристик отраженного, преломленного и прошедшего света через монообъемные и многослойные системы с произвольным набором оптических свойств (анизотропия, оптическая активность, поглощение) и обратных задач по расчету оптических свойств кристаллических объектов. Составление программ по обработке экспериментальных данных при проведении измерений на спектрофотометре, спектрофлуориметре, спектрополяриметре и эллипсометре.

5. Исследование объемного фотовольтаического эффекта и эффекта фоторефракции.

6. Исследования свойств сегнетоэлектрических пленок П(ВДФ/ТрФЭ).

7. Изучение фазовых переходов и доменной структуры в сегнетоэлектриках, в том числе с применением оптических методик.

8. Создание и исследование устойчивых субмикро- и нанодоменных структур с заданными характеристиками методами АСМ и электронного облучения в актуальных сегнетоэлектрических материалах, таких как LiNbO₃ , и в оптических волноводных структурах на основе LiNbO₃, тонких пленок LNOI, SrxBa_1−xNb2O₆ (SBN-x).