§ Методология исследования поверхностей сегнетоэлектриков

   § Методики создания и исследования регулярных доменных структур

   § Методология учета артефактов: их классификация, способы распознавания

   § Ряд методов программной компенсации артефактов АСМ изображений, которые не могут быть устранены аппаратным способом.

   § Алгоритм расчета автокорреляционной функции, функции спектральной плотности мощности и величины эффективной шероховатости по АСМ данным.

   § Методика исследования статистических свойств рельефа наноструктурированных поверхностей диэлектрических материалов с использованием функции спектральной плотности мощности 2008 г.