1. Расчет оптических параметров кристаллов методом молекулярных рефракций.

2. Определение величины ширины запрещенной зоны полупроводника из спектрофотометрических измерений.

3. Расчет величин линейного двупреломления и дихроизма из спектрополяриметрических измерений.

4. Определение концентрации ионов Cr3+ в кристаллах рубина из спектрофотометрических измерений.

5. Предподготовка кристаллов: отжиг и монодоменизация кристаллов при контролируемых параметрах (температуры, поля).