Установка плазменной очистки Fiscione NanoClean 1070

Установка плазменной очистки образцов и небольших узлов оборудования от органических загрязнений. Применяется для повышения качества изображений, получаемых методами электронной микроскопии. Имеет возможность удаления оксидных плёнок при подключении водорода.

Установка Gatan 691 PIPS
Предназначена для ионного утонения образцов для просвечивающей электронной микроскопии. В установке предусмотрено утонение как поперечных срезов, так и образцов «в плане» с автоматической остановкой процесса травления по его завершении.

Установка механической обработки Leica TXP
На данном приборе осуществляется пробоподготовка для растровой электронной микроскопии, в результате которой получаются плоскопараллельные поверхности зеркального качества. Что является необходимым условием для получения качественных изображений, особенно методами EDX-картирования и EBSD.

Установка ионного травления Hitachi IM4000 Plus
Ионная полировка и очистка поверхности шлифов, а также травление поперечных срезов образцов. Позволяет устранить повреждения от механической шлифовки, убрать оксидные слои с поверхности образцов. Поперечный срез можно осуществлять в крио-условиях, что необходимо для чувствительных образцов.

Установка витрофикации FEI VitroBot

Установка предназначена для фиксации образцов посредством их заморозки в тонком льду. Что позволяет наблюдать органические образцы в просвечивающем электронном микроскопе с минимальными повреждениями, в отличие от вносимых другими способами пробоподготовки, а также электронным пучком в процессе исследованияю.

Просвечивающий электронный микроскоп Tecnai Osiris FEI
Просвечивающий электронный микроскоп с ускоряющим напряжением 200 кВ, разрешающей способностью по точкам 1,5 ангстрема, по линиям – 1,02 ангстрема. Микроскоп имеет возможность получения изображений на ПЗС-камеру, определения элементного состава образцов с помощью приставки энергодисперсионного анализа, с помощью приставки просвечивающе-растрового режима и широкоуглового детектора тёмного поля получаются изображений с Z-контрастом. Также можно производить высокоскоростное картирование химических элементов в образце с разрешением до 1-2нм.

Просвечивающий электронный микроскоп Tecnai G230 ST FEI
Просвечивающий электронный микроскоп с ускоряющим напряжением 300 кВ, разрешающей способностью по точкам 2,0 ангстрема, по линиям – 1,4 ангстрема. Микроскоп имеет возможность получения изображений на ПЗС-камеру, определения элементного состава образцов с помощью приставки энергодисперсионного анализа, с помощью приставки просвечивающе-растрового режима и широкоуглового детектора тёмного поля получаются изображений с Z-контрастом.

Просвечивающий электронный микроскоп Tecnai G212 SPIRIT FEI
Электронный просвечивающий крио-микроскоп Tecnai G212 предназначен для получения электронно-микроскопических изображений «на просвет» различных объектов в т.ч. нанообъектов, биологических макромолекул и наночастиц, вирусов и так далее в том числе замороженных в жидком этане и окрашенных негативно солями тяжелых металлов.

Растровый электронный микроскоп с полевой эмиссией JSM-7401F JEOL
Растровый электронный микроскоп с пушкой полевой эмиссии. Содержит приставку энегодисперсионного рентгеновского микроанализа (EDS). Прибор предназначен, в основном, для изучения поверхности наноразразмерных объектов и структур с пониженным ускоряющем напряжением, в режиме торможения основного пучка.

Автоэмиссионный растровый электронно-ионный (FIB) микроскоп Scios FEI

Прибор предназначен для решения большого спектра задач в материаловедении, таких как: получение микроскопических изображений в электронных и ионных пучках c высококим разрешением, в том числе в низковольном режиме и режиме торможения пучка, локальное травление и приготовление образцов для просвечивающей электронной микроскопии, благодаря наличию четырех типов детекторов позволяет получать изображения в разных контрастах в режиме реального времени, а также решение задач ионной литографии. Содержит электронную и ионную колонны, системы для локального напыления и штатный манипулятор EasyLift. Оборудован приставкой для регистрации дифракции обратно-рассеянных электронов, что позволяет строить ориентационные карты элементов образца.